FT-S系列 微力傳感探針
 
型號(hào)規(guī)格：

傳感器型號(hào) 量程 分辨率@30 Hz
FT-S 160 ±10000   µN   2   µN
FT-S 270 ±2000    µN 0.4   µN
FT-S 540 ±160     µN 0.05  µN 

產(chǎn)品特點(diǎn)：
1.獨(dú)特的力感測(cè)范圍，高分辨率的力值測(cè)量
2.迅速的微力感應(yīng)， 可測(cè)高到8KHz頻率的力。
3.獨(dú)立的傳感器標(biāo)定，可達(dá)到無(wú)與倫比的精度.
4.十萬(wàn)次的運(yùn)行周期，品質(zhì)始終如一。
5.不受外界溫度、濕度因素的影響。
6.輸出的穩(wěn)定性高，信號(hào)漂移低。
7.軸外力感測(cè)的交叉靈敏度低，選擇性高。
8.可定制的高長(zhǎng)徑比的傳感探針(軸向施力)。
9.傳感器探針可以施加電勢(shì)。
10.三倍滿量程的過(guò)載保護(hù)。
11.氣，液和真空狀態(tài)下皆可兼容 (可運(yùn)用于掃描式電子顯微鏡)
12.即連即用: 標(biāo)準(zhǔn)的0~5V輸出電壓. 可直接用 USB插口和FT-SC01 數(shù)據(jù)與計(jì)算機(jī)相連
13.微力傳感方面最完備的技術(shù)支持

 FT-S系列 微力傳感探針 支持的配套設(shè)備：
一、FT-FS 1000 納米機(jī)械探針
典型應(yīng)用
 MEMS 微電機(jī)械系統(tǒng)測(cè)試
 品質(zhì)控制
 原子力顯微鏡的懸臂校正
 納米機(jī)械測(cè)試
      1.應(yīng)力測(cè)試
      2.拉力測(cè)試
      3.撓度測(cè)試
      4.形變測(cè)試
      5.蠕變測(cè)試
      6.切變測(cè)試
      7.粘附力測(cè)試
 SEM掃描式電子顯微鏡的納米機(jī)械測(cè)試

二、FT-FS 5000 應(yīng)力測(cè)試儀
典型應(yīng)用
 MEMS微電機(jī)械系統(tǒng)測(cè)試
 品質(zhì)控制
 AFM原子力顯微鏡的懸臂校正
 微機(jī)械測(cè)試
   應(yīng)力測(cè)試
   拉力測(cè)試
   撓度測(cè)試
   疲勞度測(cè)試
   蠕變測(cè)試
   切變測(cè)試
   粘附力測(cè)試
    
三、FT-FS 8000 生物機(jī)械實(shí)驗(yàn)室
典型應(yīng)用
 液體中的機(jī)械測(cè)試
   應(yīng)力測(cè)試
   拉力測(cè)試
   撓度測(cè)試
   蠕變測(cè)試
   切變測(cè)試
 細(xì)胞粘附力的測(cè)量
 微生物間的相互作用力的測(cè)量
 
相關(guān)配件：                  
FT-SC 01 數(shù)據(jù)采集器